Резултати
еНаука >
Резултати >
Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress
| Назив: | Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress | Аутори: | Manić, Ivica   ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2010 | Публикација: | Proceedings of 10th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2010) | Издавач: | Prague, Czech Republic : Czech Technical University in Prague | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-80-01-04602-9  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 173-178 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/146705 | URL: | http://technology.feld.cvut.cz:8080/xwiki/bin/view/ISPS2010/ | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.