Резултати
еНаука >
Резултати >
Determination atomic percentage of metal in chalcogenide Ag-As2Ch3 thin layers by rutherford backscattering spectrometry and energy dispersive spectroscopy
| Назив: | Determination atomic percentage of metal in chalcogenide Ag-As2Ch3 thin layers by rutherford backscattering spectrometry and energy dispersive spectroscopy | Аутори: | Čajko, Kristina O. |
Година: | 2019 | Публикација: | 3rd International Conference on Applied Surface Science, 3rd International Conference on Applied Surface Science (ICASS 2019), Pisa, Italy, 2019, 17-20.06.2019., No 3 | Издавач: | Elsevier, Pisa, Italy | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. P1.022-P1.022 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/175600 https://www.elsevier.com/events/conferences/international-conference-on-applied-surface-science https://www.cris.uns.ac.rs/record.jsf?recordId=110982&source=eNauka&language=en |
URL: | https://www.elsevier.com/events/conferences/international-conference-on-applied-surface-science | Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.