Резултати
еНаука >
Резултати >
Measurements of Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in p-Channel Power VDMOSFETs
| Назив: | Measurements of Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in p-Channel Power VDMOSFETs | Аутори: | Danković, Danijel   ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2012 | Публикација: | Proceedings of 11th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2012), Prague | Издавач: | Czech Technical University in Prague, Czech Republic | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-80-01-05100-9  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 240-245 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/187594 | URL: | http://technology.feld.cvut.cz/ISPS2012 | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.