Резултати
еНаука >
Резултати >
Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors
| Назив: | Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors | Аутори: | Đorić-Veljković, Snežana   ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2014 | Публикација: | 2014 29TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS PROCEEDINGS - MIEL 2014 | ISSN: | 2159-1660  Претражи идентификатор |
Издавач: | Belgrade, Serbia : IEEE | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | Electronic ISBN : 978-1-4799-5296-0; Print ISBN : 978-1-4799-5295-3 ИСБН није валидан Претражи идентификатор |
Колација: | str. 293-296 | DOI: | 10.1109/miel.2014.6842146 | WoS-ID: | 000360788600062 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84904697180 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/190922 | Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.