Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors
Naziv: Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors
Autori: Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav 
Godina: 2014
Publikacija: 2014 29TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS PROCEEDINGS - MIEL 2014
ISSN: 2159-1660 Pretraži identifikator
Izdavač: Belgrade, Serbia : IEEE
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: Electronic ISBN : 978-1-4799-5296-0; Print ISBN : 978-1-4799-5295-3 ИСБН није валидан Pretraži identifikator
Kolacija: str. 293-296
DOI: 10.1109/miel.2014.6842146
WoS-ID: 000360788600062
Scopus-ID: 2-s2.0-84904697180
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/190922
Izvor metapodataka: Migracija
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

3
SCOPUSTM
2
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.