TEM study of basal-plane inversion boundaries in Sn‐Doped ZnO

Ribić, Vesna R.; A. Rečnik; G. Dražić; M. Komelj; A. Kokalj; M. Podlogar; N. Daneu; S. Bernik; T. Radošević; Luković Golić, Danijela T.; Branković, Zorica M.; Branković, Goran O.

Rezultati

eNauka > Rezultati > TEM study of basal-plane inversion boundaries in Sn‐Doped ZnO

Naziv:	TEM study of basal-plane inversion boundaries in Sn‐Doped ZnO
Autori:	Ribić, Vesna R. ; A. Rečnik; G. Dražić; M. Komelj; A. Kokalj; M. Podlogar; N. Daneu; S. Bernik; T. Radošević; Luković Golić, Danijela T. ; Branković, Zorica M. ; Branković, Goran O. ;
Godina:	2017
Publikacija:	13th Multinational Congress on Microscopy, Rovinj, Croatia, 2017
Izdavač:	Ruđer Bošković Institute and Croatian Microscopy Society, Rovinj (Croatia)
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-953-7941-19-2 Pretraži identifikator
Kolacija:	str. 471-473
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/203048 http://rimsi.imsi.bg.ac.rs/handle/123456789/2463 https://mcm2017.irb.hr
URL:	https://mcm2017.irb.hr
Izvor metapodataka:	Migracija
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.