TEM study of basal-plane inversion boundaries in Sn‐Doped ZnO

Ribić, Vesna R.; A. Rečnik; G. Dražić; M. Komelj; A. Kokalj; M. Podlogar; N. Daneu; S. Bernik; T. Radošević; Luković Golić, Danijela T.; Branković, Zorica M.; Branković, Goran O.

Резултати

еНаука > Резултати > TEM study of basal-plane inversion boundaries in Sn‐Doped ZnO

Назив:	TEM study of basal-plane inversion boundaries in Sn‐Doped ZnO
Аутори:	Ribić, Vesna R. ; A. Rečnik; G. Dražić; M. Komelj; A. Kokalj; M. Podlogar; N. Daneu; S. Bernik; T. Radošević; Luković Golić, Danijela T. ; Branković, Zorica M. ; Branković, Goran O. ;
Година:	2017
Публикација:	13th Multinational Congress on Microscopy, Rovinj, Croatia, 2017
Издавач:	Ruđer Bošković Institute and Croatian Microscopy Society, Rovinj (Croatia)
Тип резултата:	Конференцијски рад
ISBN:	978-953-7941-19-2 Претражи идентификатор
Колација:	str. 471-473
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/203048 http://rimsi.imsi.bg.ac.rs/handle/123456789/2463 https://mcm2017.irb.hr
URL:	https://mcm2017.irb.hr
Извор метаподатака:	Migracija
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.