Резултати
еНаука >
Резултати >
Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS Transistors
Назив  : | Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS Transistors | Аутори: | Marjanović, Miloš   ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran ; Janković, Nebojša D. |
Година: | 2015 | Публикација: | RAD 2015: THE THIRD INTERNATIONAL CONFERENCE ON RADIATION AND APPLICATIONS IN VARIOUS FIELDS OF RESEARCH | Издавач: | RAD Association, Montenegro | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-86-80300-01-6  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 405-408 | WoS-ID: | 000387979700083 | URI: | http://www.rad-conference.org https://enauka.gov.rs/handle/123456789/233485 |
URL: | http://www.rad-conference.org | Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.