Резултати
eNauka >
Rezultati >
Microscopic Properties of the SiO2/Si Interface Growth Based on Numerical Simulations
| Naziv: | Microscopic Properties of the SiO2/Si Interface Growth Based on Numerical Simulations | Autori: | Stosic, Borko D.; da Silva, Jr., Eronides F. | Godina: | 1997 | Publikacija: | Brazilian Journal of Physics | ISSN: | 0103-9733 Brazilian Journal of Physics Pretraži identifikator1678-4448 Brazilian Journal of Physics Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 27 br. 2 str. 325-333 | WoS-ID: | 000208952700029 | URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/2736 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/243990 |
Projekat: | Conselho Nacional de Desenvolvimento Cientifico e Tecnologico (CNPq), Financiadora de Estudos e Projetos (FINEP) | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.