Резултати

еНаука >  Резултати >  Microscopic Properties of the SiO2/Si Interface Growth Based on Numerical Simulations
Назив: Microscopic Properties of the SiO2/Si Interface Growth Based on Numerical Simulations
Аутори: Stosic, Borko D.; da Silva, Jr., Eronides F.
Година: 1997
Публикација: Brazilian Journal of Physics
ISSN: 0103-9733 Brazilian Journal of Physics Претражи идентификатор
1678-4448 Brazilian Journal of Physics Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 27 br. 2 str. 325-333
WoS-ID: 000208952700029
URI: https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/2736
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/243990
Пројекат: Conselho Nacional de Desenvolvimento Cientifico e Tecnologico (CNPq), Financiadora de Estudos e Projetos (FINEP)
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.