Резултати

еНаука >  Резултати >  A method for separating the effects of interface from border and oxide trapped charge densities in MOS transistors
Назив: A method for separating the effects of interface from border and oxide trapped charge densities in MOS transistors
Аутори: Savić, Z; Radjenovic, B
Година: 1997
Публикација: Microelectronics and Reliability
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 37 br. 7 str. 1147-1150
DOI: 10.1016/S0026-2714(96)00277-6
WoS-ID: A1997WY85100019
Scopus-ID: 2-s2.0-0031191049
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/249856
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/2061
М-категорија: 
23M23 - Међународни часопис категорије M23

1
SCOPUSTM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.