Results
еНаука >
Резултати >
Low‐Frequency Noise and Resistance as Reliability Indicators of Mechanically and Electrically Strained Thick‐Film Resistors
| Назив: | Low‐Frequency Noise and Resistance as Reliability Indicators of Mechanically and Electrically Strained Thick‐Film Resistors | Аутори: | Stanimirović, Zdravko   |
Година: | 2017 | Публикација: | System Reliability | Издавач: | IntechOpen | Тип резултата: | Поглавље у монографији | ISBN: | 978-953-51-3706-1  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 221-237 | DOI: | 10.5772/intechopen.69441 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/266988 | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | Напомена: | Chapter 12 | М-категорија: | 14  MNO za elektrotehniku, telekomunikacije i informacione tehnologije (31.03.2022.)M14 - Монографска студија/поглавље у књизи М12 |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.