Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Low‐Frequency Noise and Resistance as Reliability Indicators of Mechanically and Electrically Strained Thick‐Film Resistors
| Naziv: | Low‐Frequency Noise and Resistance as Reliability Indicators of Mechanically and Electrically Strained Thick‐Film Resistors | Autori: | Stanimirović, Zdravko   |
Godina: | 2017 | Publikacija: | System Reliability | Izdavač: | IntechOpen | Tip rezultata: | Poglavlje u monografiji | ISBN: | 978-953-51-3706-1  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 221-237 | DOI: | 10.5772/intechopen.69441 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/266988 | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | Napomena: | Chapter 12 | M-kategorija: | 14  MNO za elektrotehniku, telekomunikacije i informacione tehnologije (31.03.2022.)M14 - Monografska studija/poglavlje u knjizi M12 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.