Defect generation in non-nitrided and nitrided sputtered gate oxides under post-irradiation Fowler-Nordheim constant current stress

Jelenkovic, Emil V.; Kovcevic, Milojko; Jha, S.; Tong, K. Y.; Nikezić, Dragoslav

Резултати

еНаука > Резултати > Defect generation in non-nitrided and nitrided sputtered gate oxides under post-irradiation Fowler-Nordheim constant current stress

Назив:	Defect generation in non-nitrided and nitrided sputtered gate oxides under post-irradiation Fowler-Nordheim constant current stress
Аутори:	Jelenkovic, Emil V.; Kovcevic, Milojko ; Jha, S.; Tong, K. Y.; Nikezić, Dragoslav
Година:	2013
Публикација:	Microelectronic Engineering
ISSN:	0167-9317 Microelectronic Engineering Претражи идентификатор
Тип резултата:	Научни чланак
Колација:	vol. 104 str. 90-94
DOI:	10.1016/j.mee.2012.10.016
WoS-ID:	000315245000017
Scopus-ID:	2-s2.0-84872400570
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/277032 https://scidar.kg.ac.rs/handle/123456789/10373 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/5323
Пројекат:	Hong Kong Polytechnic University, Ministry of Science and Technology Development of Republic of Serbia [04311]
М-категорија:	21M21 - Рад у врхунском међ. часопису

5
SCOPUS^TM

3
OpenCitations

5
WEB OF SCIENCE^TM

Алт метрика

Dimensions

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.