Резултати

еНаука >  Резултати >  Defect generation in non-nitrided and nitrided sputtered gate oxides under post-irradiation Fowler-Nordheim constant current stress
Назив: Defect generation in non-nitrided and nitrided sputtered gate oxides under post-irradiation Fowler-Nordheim constant current stress
Аутори: Jelenkovic, Emil V.; Kovcevic, Milojko ; Jha, S.; Tong, K. Y.; Nikezić, Dragoslav 
Година: 2013
Публикација: Microelectronic Engineering
ISSN: 0167-9317 Microelectronic Engineering Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 104 str. 90-94
DOI: 10.1016/j.mee.2012.10.016
WoS-ID: 000315245000017
Scopus-ID: 2-s2.0-84872400570
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/277032
https://scidar.kg.ac.rs/handle/123456789/10373
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/5323
Пројекат: Hong Kong Polytechnic University, Ministry of Science and Technology Development of Republic of Serbia [04311]
М-категорија: 
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21

5
SCOPUSTM
3
OpenCitations
5
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.