Резултати
еНаука >
Резултати >
NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETs
| Назив: | NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETs | Аутори: | Davidović, Vojkan   ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Đorić Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav ; Stankovic, Srboljub |
Година: | 2018 | Публикација: | Facta universitatis - series: Electronics and Energetics | ISSN: | 0353-3670 Facta Universitatis: Series Electronics and Energetics Претражи идентификатор |
Издавач: | Niš, Serbia : University of Niš | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 31 br. 3 str. 367-388 | DOI: | 10.2298/fuee1803367d | WoS-ID: | 000435452500003 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/279017 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/12131 |
Пројекат: | Развој, оптимизација и примена технологија самонапајајућих сензора Карактеризација, анализа и моделовање физичких појава у танким слојевима за примену у MOS нанокомпонентама |
Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.