Results
еНаука >
Резултати >
NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETs
| Naziv: | NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETs | Autori: | Davidović, Vojkan   ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Đorić Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav ; Stankovic, Srboljub |
Godina: | 2018 | Publikacija: | Facta universitatis - series: Electronics and Energetics | ISSN: | 0353-3670 Facta Universitatis: Series Electronics and Energetics Pretraži identifikator |
Izdavač: | Niš, Serbia : University of Niš | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 31 br. 3 str. 367-388 | DOI: | 10.2298/fuee1803367d | WoS-ID: | 000435452500003 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/279017 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/12131 |
Projekat: | Развој, оптимизација и примена технологија самонапајајућих сензора Карактеризација, анализа и моделовање физичких појава у танким слојевима за примену у MOS нанокомпонентама |
Izvor metapodataka: | Migracija | M-kategorija: | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.