Резултати
| Назив: | Automatic and reliable electrical characterization of MOSFETs | Аутори: | Stamenkovic, Z.; Vasovic, N. D.; Ristić, Goran   |
Година: | 2014 | Публикација: | 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems | Тип резултата: | Конференцијски рад | DOI: | 10.1109/ddecs.2014.6868804 | WoS-ID: | 000346734200054 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84938778243 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/287431 | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.