Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Automatic and reliable electrical characterization of MOSFETs
Naziv: Automatic and reliable electrical characterization of MOSFETs
Autori: Stamenkovic, Z.; Vasovic, N. D.; Ristić, Goran  
Godina: 2014
Publikacija: 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
Tip rezultata: Konferencijski rad
DOI: 10.1109/ddecs.2014.6868804
WoS-ID: 000346734200054
Scopus-ID: 2-s2.0-84938778243
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/287431
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

1
SCOPUSTM
3
OpenCitations
1
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.