Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing

Danković, Danijel; Prijić, Aneta; Manić, Ivica; Davidović, Vojkan; Golubović, Snežana; Stojadinović, Ninoslav; Đorić-Veljković, Snežana

Резултати

еНаука > Резултати > Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing

Назив:	Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing
Аутори:	Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana
Година:	2010
Публикација:	Elektronski zbornik radova 54. konferencije ETRAN
Издавач:	Beograd : ETRAN
Тип резултата:	Конференцијски рад
ISBN:	978-86-80509-65-5 Претражи идентификатор
Колација:	str. MO1.1-1-MO1.1-4
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/288855
URL:	http://etran.etf.rs/etran2010/Program_ETRAN_2010.pdf
Извор метаподатака:	Migrirano iz RIS podataka
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.