Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing

Danković, Danijel; Prijić, Aneta; Manić, Ivica; Davidović, Vojkan; Golubović, Snežana; Stojadinović, Ninoslav; Đorić-Veljković, Snežana

Rezultati

eNauka > Rezultati > Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing

Naziv:	Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing
Autori:	Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana
Godina:	2010
Publikacija:	Elektronski zbornik radova 54. konferencije ETRAN
Izdavač:	Beograd : ETRAN
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-86-80509-65-5 Pretraži identifikator
Kolacija:	str. MO1.1-1-MO1.1-4
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/288855
URL:	http://etran.etf.rs/etran2010/Program_ETRAN_2010.pdf
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.