Micro-metric electronic patterning of a topological band structure using a photon beam

Frantzeskakis, E.; De, Jong N.; Zwartsenberg, B.; Huang, Y. K.; Bay, T. V.; Pronk, P.; Van, Heumen E.; Wu, D.; Pan, Y.; Radović, Milan; Plumb, N. C.; Xu, N.; Shi, M.; De, Visser A.; Golden, M. S.

Резултати

еНаука > Резултати > Micro-metric electronic patterning of a topological band structure using a photon beam

Назив:	Micro-metric electronic patterning of a topological band structure using a photon beam
Аутори:	Frantzeskakis, E.; De, Jong N.; Zwartsenberg, B.; Huang, Y. K.; Bay, T. V.; Pronk, P.; Van, Heumen E.; Wu, D.; Pan, Y.; Radović, Milan ; Plumb, N. C.; Xu, N.; Shi, M.; De, Visser A.; Golden, M. S.;
Година:	2015
Публикација:	Scientific Reports
ISSN:	2045-2322 Scientific Reports Претражи идентификатор
Тип резултата:	Научни чланак
Колација:	vol. 5 br. 1
DOI:	10.1038/srep16309
WoS-ID:	000364213100001
Scopus-ID:	2-s2.0-84946762520
PMID:	26543011
PMCID:	PMC4635360
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/289185
Извор метаподатака:	Migrirano iz RIS podataka
М-категорија:	21aM21a - Рад у међ. часопису изузетних вредности

5
SCOPUS^TM

1
PubMed Central^TM

6
OpenCitations

5
WEB OF SCIENCE^TM

Алт метрика

Dimensions

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.