Micro-metric electronic patterning of a topological band structure using a photon beam

Frantzeskakis, E.; De, Jong N.; Zwartsenberg, B.; Huang, Y. K.; Bay, T. V.; Pronk, P.; Van, Heumen E.; Wu, D.; Pan, Y.; Radović, Milan; Plumb, N. C.; Xu, N.; Shi, M.; De, Visser A.; Golden, M. S.

Rezultati

eNauka > Rezultati > Micro-metric electronic patterning of a topological band structure using a photon beam

Naziv:	Micro-metric electronic patterning of a topological band structure using a photon beam
Autori:	Frantzeskakis, E.; De, Jong N.; Zwartsenberg, B.; Huang, Y. K.; Bay, T. V.; Pronk, P.; Van, Heumen E.; Wu, D.; Pan, Y.; Radović, Milan ; Plumb, N. C.; Xu, N.; Shi, M.; De, Visser A.; Golden, M. S.;
Godina:	2015
Publikacija:	Scientific Reports
ISSN:	2045-2322 Scientific Reports Pretraži identifikator
Tip rezultata:	Naučni članak
Kolacija:	vol. 5 br. 1
DOI:	10.1038/srep16309
WoS-ID:	000364213100001
Scopus-ID:	2-s2.0-84946762520
PMID:	26543011
PMCID:	PMC4635360
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/289185
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	21aM21a - Rad u međ. časopisu izuzetnih vrednosti

5
SCOPUS^TM

1
PubMed Central^TM

6
OpenCitations

5
WEB OF SCIENCE^TM

Alt metrika

Dimensions

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.