SEM – EDS analysis and microindentation hardness study of Zr doped X2Y3 (X = Bi, Sb; Y = Te, Se) p – type semiconductor

Požega, Emina; Ivana Marković; Nikola Vuković

Rezultati

eNauka > Rezultati > SEM – EDS analysis and microindentation hardness study of Zr doped X2Y3 (X = Bi, Sb; Y = Te, Se) p – type semiconductor

Naziv:	SEM – EDS analysis and microindentation hardness study of Zr doped X2Y3 (X = Bi, Sb; Y = Te, Se) p – type semiconductor
Autori:	Požega, Emina ; Ivana Marković ; Nikola Vuković
Godina:	2013
Publikacija:	45th International October Conference on Mining and Metallurgy
Izdavač:	Tehnički fakultet u Boru, Institut za rudarstvo i metalurgiju Bor, Srbija
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-86-6305-012-9 Pretraži identifikator
Kolacija:	str. 600-603
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/294576
URL:	http://www.ioc.tf.bor.ac.rs/images/sampledata/ioc2013/final_program_ioc_2013.pdf
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.