Резултати
еНаука >
Резултати >
SEM – EDS analysis and microindentation hardness study of Zr doped X2Y3 (X = Bi, Sb; Y = Te, Se) p – type semiconductor
| Назив: | SEM – EDS analysis and microindentation hardness study of Zr doped X2Y3 (X = Bi, Sb; Y = Te, Se) p – type semiconductor | Аутори: | Požega, Emina   ; Ivana Marković ; Nikola Vuković |
Година: | 2013 | Публикација: | 45th International October Conference on Mining and Metallurgy | Издавач: | Tehnički fakultet u Boru, Institut za rudarstvo i metalurgiju Bor, Srbija | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-86-6305-012-9  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 600-603 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/294576 | URL: | http://www.ioc.tf.bor.ac.rs/images/sampledata/ioc2013/final_program_ioc_2013.pdf | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.