Sensitivity of pMOS dosimeters with various gate oxide thickness

Marko Anđelković; Ristić, Goran; A. B. Jaksic

Резултати

еНаука > Резултати > Sensitivity of pMOS dosimeters with various gate oxide thickness

Назив:	Sensitivity of pMOS dosimeters with various gate oxide thickness
Аутори:	Marko Anđelković; Ristić, Goran ; A. B. Jaksic
Година:	2012
Публикација:	Proceedings of the First International Conference on Radiation and Dosimetery in Various Fields of Researh (RAD 2012)
Издавач:	Elektronski fakultet, Univerzitet u Nisu, Srbija
Тип резултата:	Конференцијски рад
ISBN:	978-86-6125-063-7 Претражи идентификатор
Колација:	vol. 1 br. 1 str. 125-128
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/294622
URL:	https://www.rad2012.elfak.rs
Извор метаподатака:	Migrirano iz RIS podataka
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.