Rezultati
| Naziv: | Sensitivity of pMOS dosimeters with various gate oxide thickness | Autori: | Marko Anđelković; Ristić, Goran   ; A. B. Jaksic |
Godina: | 2012 | Publikacija: | Proceedings of the First International Conference on Radiation and Dosimetery in Various Fields of Researh (RAD 2012) | Izdavač: | Elektronski fakultet, Univerzitet u Nisu, Srbija | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-86-6125-063-7  Pretraži identifikator |
Kolacija: | vol. 1 br. 1 str. 125-128 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/294622 | URL: | https://www.rad2012.elfak.rs | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.