Резултати
| Назив: | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs | Аутори: | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2018 | Публикација: | MICROELECTRONICS RELIABILITY | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 82 str. 28-36 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2018.01.003 | WoS-ID: | 000428825600004 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85044346240 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/334914 | Пројекат: | Ministry of Science of the Republic of Serbia [OI-171026, TR-32026] SASA [F-148] |
Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.