A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs

Danković, Danijel; Manić, Ivica; Prijić, Aneta; Davidović, Vojkan; Prijić, Zoran; Golubović, Snežana; Đorić-Veljković, Snežana; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav

Резултати

еНаука > Резултати > A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs

Назив:	A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs
Аутори:	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav
Година:	2018
Публикација:	Microelectronics Reliability
ISSN:	0026-2714 Microelectronics Reliability Претражи идентификатор
Издавач:	United Kingdom : Elsevier Ltd.
Тип резултата:	Научни чланак
Колација:	vol. 82 str. 28-36
DOI:	10.1016/j.microrel.2018.01.003
WoS-ID:	000428825600004
Scopus-ID:	2-s2.0-85044346240
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/334914
Извор метаподатака:	Migrirano iz RIS podataka
М-категорија:	22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису

14
SCOPUS^TM

7
OpenCitations

12
WEB OF SCIENCE^TM

Алт метрика

Dimensions

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.