Rezultati
| Naziv: | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs | Autori: | Danković, Danijel   ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav |
Godina: | 2018 | Publikacija: | MICROELECTRONICS RELIABILITY | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator |
Izdavač: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 82 str. 28-36 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2018.01.003 | WoS-ID: | 000428825600004 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85044346240 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/334914 | Projekat: | Ministry of Science of the Republic of Serbia [OI-171026, TR-32026] SASA [F-148] |
Izvor metapodataka: | Migracija | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.