Резултати
| Назив: | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress | Аутори: | Đorić-Veljković, Snežana   ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2010 | Публикација: | 2010 27th International Conference on Microelectronics Proceedings, Nis, Serbia | Издавач: | Nis, Serbia : IEEE | Тип резултата: | Конференцијски рад | Колација: | str. 443-446 | DOI: | 10.1109/miel.2010.5490448 | Scopus-ID: | 2-s2.0-77955198279 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/343684 | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
1
OpenCitations
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.