Rezultati

eNauka >  Results >  Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress
Title: Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress
Authors: Đorić-Veljković, Snežana  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav 
Issue Date: 2010
Publication: 2010 27th International Conference on Microelectronics Proceedings, Nis, Serbia
Publisher: Nis, Serbia : IEEE
Type: Conference Paper
Collation: str. 443-446
DOI: 10.1109/miel.2010.5490448
Scopus-ID: 2-s2.0-77955198279
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/343684
Metadata source: Migrirano iz RIS podataka
M-category: 
Mp. category will be shown later

1
OpenCitations
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.