Rezultati
| Naziv: | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress | Autori: | Đorić-Veljković, Snežana   ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav |
Godina: | 2010 | Publikacija: | 2010 27th International Conference on Microelectronics Proceedings, Nis, Serbia | Izdavač: | Nis, Serbia : IEEE | Tip rezultata: | Konferencijski rad | Kolacija: | str. 443-446 | DOI: | 10.1109/miel.2010.5490448 | Scopus-ID: | 2-s2.0-77955198279 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/343684 | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.