Резултати

еНаука >  Резултати >  Spice modeling of oxide and interface trapped charge effects in fully-depleted double-gate FinFETs
Назив: Spice modeling of oxide and interface trapped charge effects in fully-depleted double-gate FinFETs
Аутори: Janković, Nebojša ; Pesic-Brdjanin, Tatjana
Година: 2015
Публикација: Journal of Computational Electronics
ISSN: 1569-8025 Journal of Computational Electronics Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 14 br. 3 str. 844-851
DOI: 10.1007/s10825-015-0721-1
WoS-ID: 000358655300019
Scopus-ID: 2-s2.0-84938286830
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/344644
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

7
SCOPUSTM
6
OpenCitations
8
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.