Резултати
eNauka >
Rezultati >
Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET
| Naziv: | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET | Autori: | Danković, Danijel |
Godina: | 2015 | Publikacija: | CHINESE PHYSICS B | ISSN: | 1674-1056 Chinese Physics B Pretraži identifikator |
Izdavač: | China : IOP Publishing on behalf of the Chinese Physical Society | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 24 br. 10 str. 106601-106601 | DOI: | 10.1088/1674-1056/24/10/106601 | WoS-ID: | 000363327400061 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84947483914 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/359649 | Projekat: | Ministry of Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia [OI-171026, TR-32026] Ei PCB Factory, Nis |
Izvor metapodataka: | Migracija | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.