Резултати

еНаука >  Резултати >  Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET
Назив: Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET
Аутори: Danković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana 
Година: 2015
Публикација: CHINESE PHYSICS B
ISSN: 1674-1056 Chinese Physics B Претражи идентификатор
Издавач: China : IOP Publishing on behalf of the Chinese Physical Society
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 24 br. 10 str. 106601-106601
DOI: 10.1088/1674-1056/24/10/106601
WoS-ID: 000363327400061
Scopus-ID: 2-s2.0-84947483914
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/359649
Пројекат: Ministry of Education, Science and Technological Development of the Republic of Serbia [OI-171026, TR-32026]
Ei PCB Factory, Nis
Извор метаподатака: Migracija
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

9
SCOPUSTM
7
OpenCitations
8
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.