Резултати

еНаука >  Резултати >  Influence of the patch field on work function measurements based on the secondary electron emission
Назив: Influence of the patch field on work function measurements based on the secondary electron emission
Аутори: Bundaleski, Nenad  ; Trigueiro, J.; Silva, A. G.; Moutinho, A. M. C.; Teodoro, O. M. N. D.
Година: 2013
Публикација: Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979 Journal of Applied Physics Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 113 br. 18 str. 183720-183720
DOI: 10.1063/1.4804663
WoS-ID: 000319294100053
Scopus-ID: 2-s2.0-84878098446
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/375654
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21

14
SCOPUSTM
10
OpenCitations
14
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.