Резултати

eNauka >  Results >  Influence of the patch field on work function measurements based on the secondary electron emission
Naziv: Influence of the patch field on work function measurements based on the secondary electron emission
Autori: Bundaleski, Nenad  ; Trigueiro, J.; Silva, A. G.; Moutinho, A. M. C.; Teodoro, O. M. N. D.
Godina: 2013
Publikacija: Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979 Journal of Applied Physics Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 113 br. 18 str. 183720-183720
DOI: 10.1063/1.4804663
WoS-ID: 000319294100053
Scopus-ID: 2-s2.0-84878098446
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/375654
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

15
SCOPUSTM
10
OpenCitations
15
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.