Резултати
еНаука >
Резултати >
Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric Stacks
| Назив: | Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric Stacks | Аутори: | Davidović, Vojkan S.   ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Manić, Ivica Đ. ; Danković, Danijel M. ; Stojadinović, Ninoslav D. |
Година: | 2017 | Публикација: | 2017 IEEE 30TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS (MIEL) | ISSN: | 2159-1660  Претражи идентификатор |
Издавач: | Niš, Srbija : IEEE Electron Devices Society | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-1-5386-2561-3 Претражи идентификатор |
Колација: | vol. 1 br. 1 str. 143-146 | DOI: | 10.1109/MIEL.2017.8190088 | WoS-ID: | 000427499000029 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85043587212 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/379274 | Пројекат: | SASA [F-148] | Извор метаподатака: | Migracija | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.