Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric Stacks
| Naziv: | Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric Stacks | Autori: | Davidović, Vojkan S.   ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Manić, Ivica Đ. ; Danković, Danijel M. ; Stojadinović, Ninoslav D. |
Godina: | 2017 | Publikacija: | 2017 IEEE 30TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS (MIEL) | ISSN: | 2159-1660  Pretraži identifikator |
Izdavač: | Niš, Srbija : IEEE Electron Devices Society | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-1-5386-2561-3 Pretraži identifikator |
Kolacija: | vol. 1 br. 1 str. 143-146 | DOI: | 10.1109/MIEL.2017.8190088 | WoS-ID: | 000427499000029 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85043587212 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/379274 | Projekat: | SASA [F-148] | Izvor metapodataka: | Migracija | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.