Резултати

еНаука >  Резултати >  Determination of the Etching Rate from the Silicon Symmetry Properties by Extension of the Level Set Method
Назив: Determination of the Etching Rate from the Silicon Symmetry Properties by Extension of the Level Set Method
Аутори: Radmilović-Rađenović, Marija  ; Rađenović, Branislav  
Година: 2011
Публикација: International Review of Electrical Engineering / IREE
ISSN: 1827-6660 International Review of Electrical Engineering / IREE Претражи идентификатор
Издавач: Praise Worthy Prize
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 5 br. 3 str. 1045-1052
WoS-ID: 000280934900028
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/395157
URL: http://www.praiseworthyprize.org/jsm/?journal=iree
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

Пронађи DOI

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.