Резултати
| Назив: | Yield Modeling for Error Tolerant and Partially Defect Tolerant Arrays | Аутори: | Ćirić, Vladimir   ; Simić, Vladimir ; Milentijević, Ivan |
Година: | 2012 | Публикација: | IEEE 19th International Conference and Workshops on Engineering of Computer-Based Systems | Издавач: | IEEE, Novi Sad, Serbia | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-0-7695-4664-3  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 182-187 | DOI: | 10.1109/ECBS.2012.50 | WoS-ID: | 000308965100024 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84862083279 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/401619 | URL: | http://tab.computer.org/ecbs/2012/organization.html | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.