Rezultati
| Naziv: | Yield Modeling for Error Tolerant and Partially Defect Tolerant Arrays | Autori: | Ćirić, Vladimir   ; Simić, Vladimir ; Milentijević, Ivan |
Godina: | 2012 | Publikacija: | IEEE 19th International Conference and Workshops on Engineering of Computer-Based Systems | Izdavač: | IEEE, Novi Sad, Serbia | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-0-7695-4664-3  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 182-187 | DOI: | 10.1109/ECBS.2012.50 | WoS-ID: | 000308965100024 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84862083279 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/401619 | URL: | http://tab.computer.org/ecbs/2012/organization.html | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.