Резултати
| Title: | A new threshold voltage analytical model of strained Si/SiGe MOSFET | Authors: | Lukić, Petar M.   ; Ramović, Rifat M.; Šašić, Rajko |
Issue Date: | 2006 | Publication: | 2006 25th International Conference on Microelectronics, MIEL 2006 - Proceedings | ISSN: | 2159-1660  Search Idenfier |
Publisher: | 2006 25th International Conference on Microelectronics, MIEL 2006 | Type: | Article | Collation: | str. 472-475 | DOI: | 10.1109/ICMEL.2006.1651004 | WoS-ID: | 000238839700101 | Scopus-ID: | 2-s2.0-77956550897 | URI: | http://TechnoRep.tmf.bg.ac.rs/handle/123456789/886 https://TechnoRep.tmf.bg.ac.rs/handle/123456789/886 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/411643 http://TechnoRep.tmf.bg.ac.rs/handle/123456789/923 |
M-category: | Mp. category will be shown later |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.