Резултати

еНаука >  Резултати >  TCAD analiza HEFS degradacije električnih karakteristika nkanalnog VDMOSFET-a
Назив: TCAD analiza HEFS degradacije električnih karakteristika nkanalnog VDMOSFET-a
Аутори: Pantić, Dragan  ; Aleksić, Sanja  ; Pešić, Biljana 
Година: 2013
Публикација: ETRAN 2013
Издавач: Serbia
Тип резултата: Конференцијски рад
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/429822
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.