Rezultati

eNauka >  Rezultati >  TCAD analiza HEFS degradacije električnih karakteristika nkanalnog VDMOSFET-a
Naziv: TCAD analiza HEFS degradacije električnih karakteristika nkanalnog VDMOSFET-a
Autori: Pantić, Dragan  ; Aleksić, Sanja  ; Pešić, Biljana 
Godina: 2013
Publikacija: ETRAN 2013
Izdavač: Serbia
Tip rezultata: Konferencijski rad
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/429822
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.