Rezultati
eNauka >
Rezultati >
The Influence of Interface and Semiconductor Bulk Traps Generated Under HEFS on MOSFET`s Electrical Characteristics
| Naziv: | The Influence of Interface and Semiconductor Bulk Traps Generated Under HEFS on MOSFET`s Electrical Characteristics | Autori: | Pantić, Dragan   ; Aleksić, Sanja ; Danijela Pantić |
Godina: | 2014 | Publikacija: | 5th Small Systems Simulation Symposium 2014 | Izdavač: | Faculty of Electronic Engineering, University of Niš, Serbia | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-86-6125-006-4  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 59-64 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/430085 | URL: | http://jds.elfak.ni.ac.rs/ssss2014/ | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Google ScholarTM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.