Резултати
еНаука >
Резултати >
The Influence of Interface and Semiconductor Bulk Traps Generated Under HEFS on MOSFET`s Electrical Characteristics
| Назив: | The Influence of Interface and Semiconductor Bulk Traps Generated Under HEFS on MOSFET`s Electrical Characteristics | Аутори: | Pantić, Dragan   ; Aleksić, Sanja ; Danijela Pantić |
Година: | 2014 | Публикација: | 5th Small Systems Simulation Symposium 2014 | Издавач: | Faculty of Electronic Engineering, University of Niš, Serbia | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-86-6125-006-4  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 59-64 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/430085 | URL: | http://jds.elfak.ni.ac.rs/ssss2014/ | Извор метаподатака: | Migrirano iz RIS podataka | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.