Резултати
| Назив: | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs | Аутори: | Đorić-Veljković, Snežana   ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav |
Година: | 2011 | Публикација: | Nuclear Technology & Radiation Protection | ISSN: | 1451-3994 Nuclear technology and radiation protection Претражи идентификатор |
Издавач: | Belgrade : Vinča Institute of Nuclear Sciences | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 26 br. 1 str. 18-24 | DOI: | 10.2298/NTRP1101018D | WoS-ID: | 000290121000003 | Scopus-ID: | 2-s2.0-79958218364 | VBS COBISS: | 40361487 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/432682 https://plus.cobiss.net/cobiss/sr/sr/bib/40361487#izum.si |
М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.