Резултати

еНаука >  Резултати >  Structural and microhardness characterization of thin electrodeposited Ni/Cu multilayers on copper substrates
Назив: Structural and microhardness characterization of thin electrodeposited Ni/Cu multilayers on copper substrates
Аутори: Lamovec, Jelena  ; Jović, Vesna ; Popović, Bogdan  ; Vasiljević-Radović, Dana  ; Aleksić, Radoslav ; Radojević, Vesna  
Година: 2010
Публикација: 27th International Conference on Microelectronics, MIEL 2010 - Proceedings
Тип резултата: Конференцијски рад
Колација: str. 213-216
DOI: 10.1109/MIEL.2010.5490498
Scopus-ID: 2-s2.0-77955240918
URI: https://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/755
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/439730
http://TechnoRep.tmf.bg.ac.rs/handle/123456789/1536
URL: http://eds.ieee.org/conferences.html
Пројекат: Mikrosistemske, nanosistemske tehnologije i komponente (RS-11027)
Dizajniranje nanokristalnih magnetnih materijala tipa (Nd,Pr)FeB i komponenti na bazi smart magnetnih materijala (RS-142035)
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

2
SCOPUSTM
1
OpenCitations
Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.