Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Structural and microhardness characterization of thin electrodeposited Ni/Cu multilayers on copper substrates
Naziv: Structural and microhardness characterization of thin electrodeposited Ni/Cu multilayers on copper substrates
Autori: Lamovec, Jelena  ; Jović, Vesna ; Popović, Bogdan  ; Vasiljević-Radović, Dana  ; Aleksić, Radoslav ; Radojević, Vesna  
Godina: 2010
Publikacija: 27th International Conference on Microelectronics, MIEL 2010 - Proceedings
Tip rezultata: Konferencijski rad
Kolacija: str. 213-216
DOI: 10.1109/MIEL.2010.5490498
Scopus-ID: 2-s2.0-77955240918
URI: https://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/755
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/439730
http://TechnoRep.tmf.bg.ac.rs/handle/123456789/1536
URL: http://eds.ieee.org/conferences.html
Projekat: Mikrosistemske, nanosistemske tehnologije i komponente (RS-11027)
Dizajniranje nanokristalnih magnetnih materijala tipa (Nd,Pr)FeB i komponenti na bazi smart magnetnih materijala (RS-142035)
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

2
SCOPUSTM
1
OpenCitations
Alt metrika
Dimensions

Pronađi DOI
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.